Fujifilm XF 33mm F1.4 R LM WR

• X-Mount Lens/APS-C-formaat
• 50 mm (equivalent van 35 mm)
• Diafragmabereik: f/1.4 tot f/16
• Minimale scherpstelafstand: 11,8 “
• Twee asferische elementen
• Drie ED-elementen

De XF 33 mm f/1.4 R LM WR van FUJIFILM biedt een natuurlijk perspectief en een snel maximaal diafragma en is een 50 mm-equivalent objectief dat wordt gekenmerkt door zijn heldere maximale diafragma van f/1.4.

Dit ontwerp is gunstig voor het werken in moeilijke lichtomstandigheden en biedt ook meer controle over de scherptediepte voor het isoleren van het onderwerp en het gebruik van selectieve focustechnieken.

Het optische ontwerp maakt gebruik van twee asferische elementen, die vervorming en sferische aberraties verminderen om een ​​hogere scherpte en nauwkeurige weergave te bereiken. Er zijn ook drie ED-elementen aanwezig, die overstraling en nevenbeelden verminderen voor een verbeterd contrast en kleurnauwkeurigheid. Dit zorgt voor een ongeëvenaarde resolutie en frisse, levendige kleuren.

• Prime lens met normale lengte is ontworpen voor APS-C-formaat FUJIFILM X-mount spiegelloze camera’s en biedt een brandpuntsafstand van 50 mm.
• Het indrukwekkende maximale diafragma van f/1.4 is geschikt voor werken in moeilijke lichtomstandigheden en biedt ook uitgebreide controle over de scherptediepte.
• Twee asferische elementen en drie ED-elementen beperken vervorming en sferische aberratie om een ​​grotere scherpte en nauwkeurige weergave te realiseren.
• Levert levendige, levensechte kleuren met minimale optische aberraties en uitstekende details.
• Krachtig nauwkeurige lineaire autofocusmotor zorgt ervoor dat beelden altijd scherp zijn. Biedt ook minimale focusbreathing en nauwkeurige handmatige focus tot een minimale scherpstelafstand van 11,8 inch.
• Afgerond diafragma met negen lamellen draagt ​​bij aan een aangename bokeh-kwaliteit.
• Volledig metalen lenscilinderconstructie die bestand is tegen stof, vocht en temperaturen tot -10°C.